Con motivo de la Conmemoración del “Día Mundial de la Metrología”, que se conmemora internacionalmente cada 20 de mayo, se realizó el primer Seminario con el título “Red Nacional de Metrología, como el Eje de Aseguramiento de las Mediciones en Chile”.

Esta actividad se desarrolló con el apoyo y participación del Sr  Julio Puelma A. Gerente de Ventas, el Sr Celestino Meneses, Ingeniero Electrónico, metrólogo, ambos de la empresa Intronica, dedicada a la comercialización y distribución de productos eléctricos y electrónicos de medición y el Instituto Nacional de Normalización.

La jornada que tuvo una gran convocatoria, contó con la participación de panelistas expertos, como el  Sr, Francisco García ex Jefe nacional del Laboratorio, ex Chairman del grupo de trabajo de Masa del SIM y actual consultor, Sr. Celestino Meneses, Metrólogo experto con una amplia experiencia, Sr Eduardo Ceballos, Jefe de la División de Acreditación del INN y el Coordinador de los Laboratorios Nacionales Químicos, Sr. Oscar Garrido.

El seminario fue iniciado con las palabras de bienvenida del Jefe de la División de Metrología, Sr. Pedro Ibarra

 En la actividad se presentaron los antecedentes necesarios para entender de mejor forma lo que significa la metrología para un país.

 Dentro de los temas abordados durante la jornada, se explicó la estructura de la Red Nacional de Metrología, RNM, y sus vínculos con actores relacionados.

También se expuso acerca de la nueva versión de la norma que establece los requisitos generales para competencias de los laboratorios de ensayo y calibración NCh-ISO 17025.

Otro de los temas relevantes tratados en profundización, fue el numeral 6.3 “Instalaciones y Condiciones ambientales” de la norma indicada, dando énfasis en las fuentes de variables de influenza

La actividad concluyó con una presentación sobre los Ensayos de Aptitud que ofrece la RNM.