Profesionales de la RNM participan en una nueva versión de "SIM Metrology School"

Profesionales de la RNM participan en una nueva version de "SIM Metrology School"

Entre el 28 de octubre y el 1 de noviembre de 2013, profesionales de los laboratorios designados de presión y masa, fueron capacitados por expertos del National Institute of Standards and Technology (NIST) en sus instalaciones ubicadas en Gaithersburg, MD, USA. 

Esta nueva versión de "SIM Metrology School 2013" corresponde a un proyecto de colaboración conjunta entre el Sistema Interamericano de Metrología (SIM) y el NIST y permite que este último imparta formación a aquellos metrologos pertenecientes a los Institutos Nacionales de Metrología o Institutos Designados de países miembros del SIM, que están comenzando sus carreras. 

La capacitación aborda las siguientes áreas de metrología: masa, termometría, longitud, magnitudes eléctricas, química, metrología legal, sistema de calidad, incertidumbre, calibración y capacidad de medición y calibración (CMC), e introducción a nuevas áreas de desarrollo. La capacitación incluye conferencias generales y formación practica en laboratorio. 

Esta actividad, a la que asistieron los Sres. Marcial Espinoza de ENAER y Fernando García de CESMEC S.A., no solo constituye una instancia valiosa para aprender tópicos de metrología, teóricos y prácticos, sino que también representa una oportunidad única para establecer contactos entre cada uno de los Institutos Nacionales de Metrología con los instructores expertos del NIST.