Entre el 28 de octubre y el 1 de noviembre de 2013, profesionales de los laboratorios designados de presión y masa, fueron capacitados por expertos del National Institute of Standards and Technology (NIST) en sus instalaciones ubicadas en Gaithersburg, MD, USA.
Esta nueva versión de "SIM Metrology School 2013" corresponde a un proyecto de colaboración conjunta entre el Sistema Interamericano de Metrología (SIM) y el NIST y permite que este último imparta formación a aquellos metrologos pertenecientes a los Institutos Nacionales de Metrología o Institutos Designados de países miembros del SIM, que están comenzando sus carreras.
La capacitación aborda las siguientes áreas de metrología: masa, termometría, longitud, magnitudes eléctricas, química, metrología legal, sistema de calidad, incertidumbre, calibración y capacidad de medición y calibración (CMC), e introducción a nuevas áreas de desarrollo. La capacitación incluye conferencias generales y formación practica en laboratorio.
Esta actividad, a la que asistieron los Sres. Marcial Espinoza de ENAER y Fernando García de CESMEC S.A., no solo constituye una instancia valiosa para aprender tópicos de metrología, teóricos y prácticos, sino que también representa una oportunidad única para establecer contactos entre cada uno de los Institutos Nacionales de Metrología con los instructores expertos del NIST.