RNM invita a la comunidad metrológica a la IV Jornada de Metrología

Como se ha hecho habitual, la Red Nacional de Metrología invita a todos sus clientes y a la comunidad metrológica nacional a participar de un día dedicado a la metrología y sus aplicaciones en los diversos sectores productivos del país.

Este año, la Jornada comprende el desarrollo de 2 seminarios, organizado por los integrantes de la RNM, que contarán con la presencia de expertos internacionales.“Seminario Confiabilidad de los Resultados en Microbiología”, organizado por el Instituto de Salud Pública de Chile, y “Desafíos Futuros para la Termometría en Chile”, organizado por CESMEC y ENAER.

El Seminario organizado por CESMEC y ENAER contará con la presencia de dos expertos internacionales, Dra. Dolores del Campo quien es Jefe de Área de Temperatura en el Centro Nacional de Metrología de España y el Dr. Enrique Martinez del departamento de Termometría  del Centro Nacional de Metrología de México. Junto a ellos, el Seminario contará con la ponencia de un experto nacional de los Institutos Designados de Chile, Sr. Marcial Espinoza, Jefe de Laboratorio de Humedad.

Por su parte, el seminario organizado por ISP contará con la exposición de la Srta. Fabiola Rojas C, Encargada área Microbiología Metrológica.

Esta actividad es parte del Programa “Fortalecimiento y reconocimiento de las mejores capacidades de medición en la Red Nacional de Metrología” que es desarrollado con aportes del Fondo de Innovación para la Competitividad, del Ministerio de Economía, Fomento y Turismo.

El Programa de la Jornada así como el formulario de inscripción, se encuentran disponibles en el sitio www.metrologia.cl o pueden ser solicitados al correo electrónico lorena.zenteno@inn.cl

Esta actividad es gratuita y las inscripciones se recibirán en el correo lorena.zenteno@inn.cl

Fecha: 
Jueves, 17 Noviembre, 2016